8 düymlük Silikon vafli P/N tipli (100) 1-100Ω dummy reclaim substratı

Qısa Təsvir:

İkitərəfli cilalanmış vaflilərin böyük inventarları, diametri 50-dən 400 mm-ə qədər olan bütün vaflilər Əgər spesifikasiyanız bizim inventarımızda mövcud deyilsə, biz istənilən unikal spesifikasiyaya uyğun olaraq vafliləri fərdi şəkildə hazırlaya bilən bir çox təchizatçı ilə uzunmüddətli əlaqələr qurmuşuq.İkitərəfli cilalanmış vaflilər silikon, şüşə və yarımkeçirici sənayedə geniş istifadə olunan digər materiallar üçün istifadə edilə bilər.

Bizə e-poçt göndərin

Məhsul təfərrüatı

Məhsul Teqləri

Gofret qutusunun təqdimatı

8 düymlük silikon vafli çox istifadə edilən silikon substrat materialıdır və inteqral sxemlərin istehsal prosesində geniş istifadə olunur.Belə silikon vaflilər adətən mikroprosessorlar, yaddaş çipləri, sensorlar və digər elektron qurğular daxil olmaqla müxtəlif növ inteqral sxemlərin istehsalı üçün istifadə olunur.8 düymlük silikon vaflilər adətən nisbətən böyük ölçülü çiplər hazırlamaq üçün istifadə olunur, üstünlükləri daha böyük səth sahəsi və bir silikon vafli üzərində daha çox çip hazırlamaq imkanı, istehsal səmərəliliyinin artmasına səbəb olur.8 düymlük silikon vafli yaxşı mexaniki və kimyəvi xüsusiyyətlərə malikdir və bu, geniş miqyaslı inteqral sxem istehsalı üçün uyğundur.

Məhsul xüsusiyyətləri

8" P/N növü, Cilalanmış silikon vafli (25 ədəd)

Orientasiya: 200

Müqavimət: 0,1 - 40 ohm•sm (Paketdən partiyaya dəyişə bilər)

Qalınlıq: 725+/-20um

Baş/Monitor/Test Qiyməti

MADDİ XÜSUSİYYƏTLƏRİ

Parametr	Xarakterik
Növ/Dopant	P, Bor N, Fosfor N, Sürmə N, Arsen
Orientasiyalar	<100>, <111> müştərinin spesifikasiyasına uyğun olaraq istiqamətləri kəsin
Oksigen tərkibi	10¹⁹ppmA Müştərinin spesifikasiyasına uyğun olaraq fərdi dözümlülüklər
Karbon tərkibi	< 0,6 ppmA

MEXANİKİ XÜSUSİYYƏTLƏRİ

Parametr	Baş	Monitor/ Test A	Test
Diametr	200±0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Qalınlıq	725±20µm (standart)	725±25µm (standart) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (standart)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Yay	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Bükmək	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Kenarların yuvarlaqlaşdırılması	YARI STD
İşarələmə	Yalnız ilkin SEMI-Flat, SEMI-STD Flats Jeida Flat, Notch

Parametr	Baş	Monitor/ Test A	Test
Ön tərəf meyarları
Səthin vəziyyəti	Kimyəvi Mexanik Cilalanmış	Kimyəvi Mexanik Cilalanmış	Kimyəvi Mexanik Cilalanmış
Səthi pürüzlülük	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Çirklənmə Hissəciklər@ >0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Duman, Pits portağal qabığı	Heç biri	Heç biri	Heç biri
Gördüm, Marks Striations	Heç biri	Heç biri	Heç biri
Arxa tərəf meyarları
Çatlaqlar, qarğa ayaqları, mişar izləri, ləkələr	Heç biri	Heç biri	Heç biri
Səthin vəziyyəti	Kaustik işlənmiş